當前位置:首頁 > 產品中心 > x射線衍射儀 > 工業(yè)X射線衍射儀 > X'Pert³馬爾文帕納科工業(yè)X射線衍射儀
簡要描述:馬爾文帕納科工業(yè)X射線衍射儀符合X 射線和運動安全規(guī)范,且具有環(huán)保和可靠性能,其可靠性的增強及性能的改進提高了分析能力,提供一體化解決方案來滿足不同需求和應用。
詳細介紹
馬爾文帕納科工業(yè)X射線衍射儀介紹:
X'Pert 平臺在馬爾文帕納科 X 射線衍射系統的新型 X'Pert3 系列中得以延用。 X'Pert3 平臺具有新型機載控制電子裝置,符合X 射線和運動安全規(guī)范,且具有環(huán)保和可靠性能,已準備好迎接未來的挑戰(zhàn)。
X'Pert3 MRD 系列新增功能具體包括:
• 全新高分辨率測角儀,它使用 Heidenhain 編碼器,因而準確性更高且定位反饋時間更短
•無需使用工具即可快速將光管位置從點焦斑更改為線焦斑
• 得益于氣動快門和光束衰減器,系統正常運行時間滿足過程控制要求
• CRISP*(包括無鉛光管塔)確保入射光路組件的壽命更長
• 第二代 PreFIX,確保實現更準確的光學器件定位
• 面向未來的單板計算機控制器,確保更好的連接性和更出色的遠程支持
*CRISP 指的是耐腐蝕智能入射光路。CRISP 可防止入射光路中出現由 X 射線引起的電離空氣造成的腐蝕。該技術使儀器運行更可靠,避免額外的維護工作。
馬爾文帕納科新一代 X'Pert3 MRD 高分辨X射線衍射儀其可靠性的增強及性能的改進提高了分析能力,提供一體化解決方案來滿足不同需求和應用:
• 半導體和單晶晶圓:倒易空間探索、搖擺曲線分析
• 多晶固體和薄膜:織構分析、反射測量
• 超薄薄膜、納米材料和非晶層:掠入射物相鑒定、面內衍射
• 非常溫條件下的測量:隨溫度和時間變化的峰高
馬爾文帕納科工業(yè)X射線衍射儀
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