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X射線熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法，在多個(gè)領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。其基本原理是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時(shí)激發(fā)出次級X射線，即X射線熒光。這些次級X射線具有特定的能量或波長特性，與元素的種類有關(guān)。因此，通過測量這些次級X射線的能量或波長，可以確定樣品中存在的元素種類及其含量。X射線熒光光譜儀的維護(hù)保養(yǎng)至關(guān)重要，以下是一些關(guān)鍵的維護(hù)保養(yǎng)措施：1、儀器清潔：定期使用無紡布或棉布擦拭儀器的外表面，以保持其干凈。在清潔過程中，禁止使用含有溶劑的清潔劑，以免損壞儀器...

在上一篇“MP工具箱”文章中，我們介紹了馬爾文帕納科納米粒度電位儀Zetasizer的粒徑測試報(bào)告中的的參數(shù)都代表了哪些含義，那么如何判斷納米粒度儀測試結(jié)果的質(zhì)量呢？本文將就此問題給出解答。在判別Zetasizer納米粒度電位儀的測試結(jié)果前，我們要確保所測試的樣品濃度合適。對于大多數(shù)剛性納米粒子來說，在合適的濃度范圍內(nèi)，粒徑大小是不隨濃度變化的。通常適合測試的樣品為半透明或接近透明狀態(tài)。還可以通過對countrate（測試光強(qiáng)）和attenuator（衰減器編號）等參數(shù)來考察...

本文摘要國家發(fā)改委于2005年發(fā)布了《工業(yè)用精對苯二甲酸粒度分布的測定激光衍射法》的中華人民共和國石油化工行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)SH/T1612.8-2005。本文報(bào)告了使用馬爾文帕納科MS3000激光粒度儀按照標(biāo)準(zhǔn)方法對PTA樣品所進(jìn)行的實(shí)驗(yàn)過程，結(jié)果符合標(biāo)準(zhǔn)要求。對苯二甲酸PTA是重要的化工產(chǎn)品，主要用于生產(chǎn)聚酯和增塑劑。而粒度分布是其重要的產(chǎn)品指標(biāo)。根據(jù)《工業(yè)用精對苯二甲酸粒度分布的測定激光衍射法》的中華人民共和國石油化工行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)SH/T1612.8-2005。馬爾文帕納科MS300...

納米粒度電位儀是一種用于化學(xué)領(lǐng)域的分析儀器，主要用于測量納米級和亞微米級固體顆粒、乳液的粒度分布以及Zeta電位。通過動(dòng)態(tài)光散射（DLS）等技術(shù)，該儀器能夠準(zhǔn)確、快速地分析樣品的粒徑大小和分布，同時(shí)測定顆粒表面的Zeta電位，從而了解顆粒的穩(wěn)定性和表面電荷情況。納米粒度電位儀利用動(dòng)態(tài)光散射原理，通過測量散射光的強(qiáng)度和波動(dòng)來推算顆粒的粒徑大小和分布。當(dāng)激光束照射到顆粒樣品上時(shí)，顆粒會(huì)散射光，散射光的強(qiáng)度與顆粒的大小和數(shù)量有關(guān)。通過分析散射光的波動(dòng)情況，可以得到顆粒的粒徑分布信息...

納米粒度電位儀是一種高度專業(yè)化的分析儀器，廣泛應(yīng)用于化學(xué)、生物學(xué)、材料科學(xué)、化學(xué)工程、環(huán)境科學(xué)技術(shù)及資源科學(xué)技術(shù)等多個(gè)學(xué)科領(lǐng)域。主要用于測量納米級和亞微米級顆粒的粒徑分布以及顆粒表面的Zeta電位。通過測量粒徑分布，可以了解顆粒的大小、形狀和分散性，這對于評估顆粒的穩(wěn)定性和性能至關(guān)重要。而Zeta電位的測量則有助于了解顆粒表面的電荷性質(zhì)，從而推斷顆粒之間的相互作用和分散穩(wěn)定性。以下是納米粒度電位儀操作指南的具體內(nèi)容：1、準(zhǔn)備工作檢查電源與連接：確保儀器的電源線連接正常，避免因...